SULJE VALIKKO

lang-FI lang-EN lang-SE

avaa valikko

Advances in Imaging and Electron Physics - Theory of Intense Beams of Charged Particles
220,10 €
Elsevier Science Publishing Co Inc
Sivumäärä: 752 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2011, 28.07.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials--Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy.

This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote
Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Advances in Imaging and Electron Physics - Theory of Intense Beams of Charged Particleszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780123813107
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Meistä
Yhteystiedot ja aukioloajat
Usein kysytyt
Akateemisen Ystäväklubi
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste
Seuraa Akateemista
Instagram
Facebook
Threads
TikTok
YouTube
LinkedIn