Name: Investigation of Inversion Layer Mobility in N-Channel Mosfets with Thin Gate Oxide
SKU: 9781374743373
Price: 108.50 EUR
Availability: OutOfStock

Investigation of Inversion Layer Mobility in N-Channel Mosfets with Thin Gate Oxide

陳添華, Tim-Wah Chan

108,50 €

Open Dissertation Press
Sivumäärä: 222 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2017, 27.01.2017 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen.
Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Investigation of Inversion Layer Mobility in N-Channel Mosfets with Thin Gate Oxide

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9781374743373

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat