|
|

avaa valikko

Microstructure Characterization of High Tc Superconducting Thin Films and Multilayer Josephson Junctions
108,00 €
Open Dissertation Press
Sivumäärä: 140 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2017, 27.01.2017 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Hankintapalvelu
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen.
Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Microstructure Characterization of High Tc Superconducting Thin Films and Multilayer Josephson JunctionsSuurenna kuva
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781374754096
Kansikuva tuotteelle