Springer-Verlag New York Inc. Sivumäärä: 522 sivua Asu: Pehmeäkantinen kirja Painos: Softcover reprint of Julkaisuvuosi: 2010, 29.10.2010 (lisätietoa) Kieli: Englanti
Scanning electron microscopy (SEM) can be exploited not only for nanomaterials characterization but also integrated with new technologies for in-situ nanomaterials engineering and manipulation.
Tämän tuotteen tilaamme kustantajalta tai tukkurilta varastoomme. Saatavuusarvio on tuotekohtainen. Lähetämme toimitusvahvistuksen heti, kun tuote on toimitettu varastoltamme rahdinkuljettajalle. Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa.