|
|

avaa valikko

Advanced Charge Trap Memory: Stack Design and Cell Characterization.
Chun-Chen Yeh
129,40 €
Proquest, Umi Dissertation Publishing
Sivumäärä: 172 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2011, 01.09.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Hankintapalvelu
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen.
Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Advanced Charge Trap Memory: Stack Design and Cell Characterization.
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781243577047
Aihealue:
Ulkomaiset kirjat » Technology » General
Kansikuva tuotteelle