|
|

avaa valikko

Active Probe Atomic Force Microscopy - A Practical Guide on Precision Instrumentation
Fangzhou Xia, Ivo W. Rangelow, Kamal Youcef-Toumi
66,10 €
Springer International Publishing AG
Sivumäärä: 366 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2025, 07.02.2025 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).

LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Tilaustuote

Tilaustuote

Tämän tuotteen tilaamme kustantajalta tai tukkurilta varastoomme. Saatavuusarvio on tuotekohtainen. Lähetämme toimitusvahvistuksen heti, kun tuote on toimitettu varastoltamme rahdinkuljettajalle.
Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Active Probe Atomic Force Microscopy - A Practical Guide on Precision InstrumentationSuurenna kuva
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783031442353
Aihealue:
Ulkomaiset kirjat » Technology » Mensuration
Kansikuva tuotteelle