|
|

avaa valikko

Active Probe Atomic Force Microscopy - A Practical Guide on Precision Instrumentation
Fangzhou Xia, Ivo W. Rangelow, Kamal Youcef-Toumi
91,00 €
Springer International Publishing AG
Sivumäärä: 366 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2024 ed.
Julkaisuvuosi: 2024, 07.02.2024 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).

LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Tilaustuote

Tilaustuote

Tämän tuotteen tilaamme kustantajalta tai tukkurilta varastoomme. Saatavuusarvio on tuotekohtainen. Lähetämme toimitusvahvistuksen heti, kun tuote on toimitettu varastoltamme rahdinkuljettajalle.
Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Active Probe Atomic Force Microscopy - A Practical Guide on Precision InstrumentationSuurenna kuva
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783031442322
Aihealue:
Ulkomaiset kirjat » Science » Microscopes & Microscopy
Kansikuva tuotteelle