|
|

avaa valikko

Emerging Nanotechnologies - Test, Defect Tolerance, and Reliability
134,60 €
Springer-Verlag New York Inc.
Sivumäärä: 408 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: Softcover reprint of
Julkaisuvuosi: 2010, 23.11.2010 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Frontiers in Electronic Testing 37
Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes. Each of these technologies offers various advantages and disadvantages. Some suffer from high power, some work in very low temperatures and some others need indeterministic bottom-up assembly. These emerging technologies are not considered as a direct replacement for CMOS technology and may require a completely new architecture to achieve their functionality.


Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability brings all of these issues together in one place for readers and researchers who are interested in this rapidly changing field.

LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Tilaustuote

Tilaustuote

Tämän tuotteen tilaamme kustantajalta tai tukkurilta varastoomme. Saatavuusarvio on tuotekohtainen. Lähetämme toimitusvahvistuksen heti, kun tuote on toimitettu varastoltamme rahdinkuljettajalle.

Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Emerging Nanotechnologies - Test, Defect Tolerance, and Reliability
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781441945136
Kansikuva tuotteelle