|
|

avaa valikko

Emerging Nanotechnologies - Test, Defect Tolerance, and Reliability
172,30 €
Springer-Verlag New York Inc.
Sivumäärä: 408 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2008 ed.
Julkaisuvuosi: 2007, 10.12.2007 (lisätietoa(avautuu ponnahdusikkunassa))
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Frontiers in Electronic Testing 37
Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes. Each of these technologies offers various advantages and disadvantages. Some suffer from high power, some work in very low temperatures and some others need indeterministic bottom-up assembly. These emerging technologies are not considered as a direct replacement for CMOS technology and may require a completely new architecture to achieve their functionality.


Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability brings all of these issues together in one place for readers and researchers who are interested in this rapidly changing field.

LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Tilaustuote(avautuu ponnahdusikkunassa)
Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | 🎄 Tämä tuote ehtii jouluksi, kun teet tilauksen viimeistään 30.11.2025
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Emerging Nanotechnologies - Test, Defect Tolerance, and ReliabilitySuurenna kuva
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780387747460