|
|

avaa valikko

Advances in X-Ray Analysis: Volume 10
132,20 €
Springer Science+Business Media
Sivumäärä: 567 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 1995, 31.12.1995 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
The featured subject of the 1966 Denver X-Ray Conference was X-Ray Diffraction Topography and Dynamical X-Ray Phenomena. One of the chairmen of the featured ses- sions, Professor R. A. Young, made the following remarks at the conclusion of his session. We think they are quite appropriate to the occasion and with his permission we reproduce them here.

LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Tilaustuote
Tuotteen saatavuus varmistetaan tilauskohtaisesti. Voit jättää tilauksen, niin tarkistamme saatavuuden tavarantoimittajilta. Jos tuotetta ei ole saatavissa, olemme sinuun yhteydessä ja perumme tilauksesi.
Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Advances in X-Ray Analysis: Volume 10
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780306381102
Kansikuva tuotteelle