Nanocharacterization by Atom Probe Tomography is a practical guide for researchers interested atomic level characterization of materials with atom probe tomography.
Readers will find descriptions of the atom probe instrument and atom probe tomography technique, field ionization, field evaporation and field ion microscopy.
Tämän tuotteen tilaamme kustantajalta tai tukkurilta varastoomme. Saatavuusarvio on tuotekohtainen. Lähetämme toimitusvahvistuksen heti, kun tuote on toimitettu varastoltamme rahdinkuljettajalle. Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa