Springer-Verlag New York Inc. Sivumäärä: 492 sivua Asu: Pehmeäkantinen kirja Painos: Softcover reprint of Julkaisuvuosi: 2012, 12.12.2012 (lisätietoa) Kieli: Englanti
In keeping with recent practice, this year's Denver Conference on Applications of X-ray Analysis emphasized x-ray diffraction and was co-sponsored by JCPDS, International Center for Diffraction Data.
Tämän tuotteen tilaamme kustantajalta tai tukkurilta varastoomme. Saatavuusarvio on tuotekohtainen. Lähetämme toimitusvahvistuksen heti, kun tuote on toimitettu varastoltamme rahdinkuljettajalle. Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa