|
|

avaa valikko

Advances in X-Ray Analysis - Volume 22
100,90 €
Springer-Verlag New York Inc.
Sivumäärä: 492 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: Softcover reprint of
Julkaisuvuosi: 2012, 12.12.2012 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
In keeping with recent practice, this year's Denver Conference on Applications of X-ray Analysis emphasized x-ray diffraction and was co-sponsored by JCPDS, International Center for Diffraction Data.

LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Tilaustuote

Tilaustuote

Tämän tuotteen tilaamme kustantajalta tai tukkurilta varastoomme. Saatavuusarvio on tuotekohtainen. Lähetämme toimitusvahvistuksen heti, kun tuote on toimitettu varastoltamme rahdinkuljettajalle.

Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Advances in X-Ray Analysis - Volume 22
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781461399896
Kansikuva tuotteelle