The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration.
Tämän tuotteen tilaamme kustantajalta tai tukkurilta varastoomme. Saatavuusarvio on tuotekohtainen. Lähetämme toimitusvahvistuksen heti, kun tuote on toimitettu varastoltamme rahdinkuljettajalle. Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa