|
|

avaa valikko

Interfacial Compatibility in Microelectronics - Moving Away from the Trial and Error Approach
Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Mervi Paulasto-Kröckel, Markus Turunen, Toni T. Mattila, Jorma Kivilahti
137,30 €
Springer London Ltd
Sivumäärä: 218 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2012
Julkaisuvuosi: 2012, 13.01.2012 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Microsystems
This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.

LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Tilaustuote

Tilaustuote

Tämän tuotteen tilaamme kustantajalta tai tukkurilta varastoomme. Saatavuusarvio on tuotekohtainen. Lähetämme toimitusvahvistuksen heti, kun tuote on toimitettu varastoltamme rahdinkuljettajalle.
Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 2-3 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Interfacial Compatibility in Microelectronics - Moving Away from the Trial and Error ApproachSuurenna kuva
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781447124696
Aihealue:
Ulkomaiset kirjat » Technology
Kansikuva tuotteelle