|
|

avaa valikko

Advanced Trace Analysis
73,70 €
Narosa Publishing House
Sivumäärä: 188 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2010, 30.01.2010 (lisätietoa)
Written by eminent scientists, Advanced Trace Analysis, this textbook discusses plethora of topics, including using statistical approaches to verify trace element analysis data, the trace analysis techniques like ICPMS and XRF, ion beam analysis technique and the speciation analysis of uranium relevant to waste disposal and management.

LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Painos loppuTuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma.
Tuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma.
Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Advanced Trace AnalysisSuurenna kuva
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9788184870299
Kansikuva tuotteelle