|
|

avaa valikko

Statistical Analysis with ArcView GIS®
Jay Lee, David W. S. Wong
67,00 €
John Wiley & Sons
Sivumäärä: 208 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2001, 16.01.2001 (lisätietoa)
Tuotteella ei tuotekuvausta.


Loppuunmyyty
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Statistical Analysis with ArcView GIS®Suurenna kuva
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780471348740
Aihealue:
Ulkomaiset kirjat
Kansikuva tuotteelle