|
|

avaa valikko

Microsystems Engineering - Metrology and Inspection
148,60 €
SPIE Press
Sivumäärä: 182 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2001, 23.10.2001 (lisätietoa)
Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Hankintapalvelu
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen.
Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Microsystems Engineering - Metrology and Inspection
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780819440952
Kansikuva tuotteelle