Springer-Verlag New York Inc. Sivumäärä: 840 sivua Asu: Pehmeäkantinen kirja Painos: Second Edition 1992 Julkaisuvuosi: 2011, 28.09.2011 (lisätietoa) Kieli: Englanti
In the last decade, since the publication of the first edition of Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic SEM and EPMA.
Tämän tuotteen tilaamme kustantajalta tai tukkurilta varastoomme. Saatavuusarvio on tuotekohtainen. Lähetämme toimitusvahvistuksen heti, kun tuote on toimitettu varastoltamme rahdinkuljettajalle. Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa. | 🎄 Tämä tuote ehtii jouluksi, kun teet tilauksen viimeistään27.11.2025