|
|

avaa valikko

Springer
Sivumäärä: 396 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: 2012 ed.
Julkaisuvuosi: 2014, 11.06.2014 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Springer Series in Materials Science 160
This book covers all facets of atom probe microscopy—including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography.
Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels.

LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Tilaustuote

Tilaustuote

Tämän tuotteen tilaamme kustantajalta tai tukkurilta varastoomme. Saatavuusarvio on tuotekohtainen. Lähetämme toimitusvahvistuksen heti, kun tuote on toimitettu varastoltamme rahdinkuljettajalle.

Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Atom Probe MicroscopySuurenna kuva
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781489989390
Kansikuva tuotteelle