Name: Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
SKU: 9781475790290
Price: 100.90 EUR
Availability: BackOrder

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Patrick Echlin, C.E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy, Dale E. Newbury

100,90 €

Springer-Verlag New York Inc.
Sivumäärä: 454 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: Softcover reprint of
Julkaisuvuosi: 2013, 08.06.2013 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa.

Myymäläsaatavuus