|
|

avaa valikko

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
137,30 €
Springer Science+Business Media
Sivumäärä: 250 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 1997 ed.
Julkaisuvuosi: 1997, 30.04.1997 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This book represents the compilation of papers presented at the second Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium, held June 7 to 9, 1994, in Natick, Massachusetts, at Natick Research, Development and Engineering Center, now part ofU.S. Army Soldier Systems Command.

LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Tilaustuote

Tilaustuote

Tämän tuotteen tilaamme kustantajalta tai tukkurilta varastoomme. Saatavuusarvio on tuotekohtainen. Lähetämme toimitusvahvistuksen heti, kun tuote on toimitettu varastoltamme rahdinkuljettajalle.

Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2Suurenna kuva
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780306455964
Kansikuva tuotteelle