|
|

avaa valikko

Advances in X-Ray Analysis
Charles S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins, G. J. McCarthy, Paul K. Predecki, R. Ryon, Deane Smith
126,60 €
Springer
Sivumäärä: 648 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 1992, 01.10.1992 (lisätietoa(avautuu ponnahdusikkunassa))
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Advances in X-Ray Analysis 35
Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Tilaustuote(avautuu ponnahdusikkunassa)
Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 2-3 viikossa | 🎄 Tämä tuote ehtii jouluksi, kun teet tilauksen viimeistään 30.11.2025
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Advances in X-Ray AnalysisSuurenna kuva
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780306442490
Aihealue:
Ulkomaiset kirjat » Science » Chemistry » Analytic