Ulkomaiset kirjat, Technology, Quality Control | Akateeminen Kirjakauppa

Malik, S. C.; Sinwar, Deepak; Kumar, Ashish; Gadde, S. R.; Chatterjee, Prasenjit; Hung, Bui Thanh
John Wiley & Sons Inc
2023
Kovakantinen kirja

Prakash, Kolla Bhanu; Peddapelli, Satish Kumar; Tam, Ivan C. K.; Woo, Wai Lok; Jain, Vishal
John Wiley & Sons Inc
2024
Kovakantinen kirja

Way Kuo; Ming J. Zuo
John Wiley & Sons
2002
Kovakantinen kirja

B Gnedenko
John Wiley & Sons
1999
Kovakantinen kirja

EE Lewis
John Wiley & Sons
1996
Pehmeäkantinen kirja

G Taguchi
John Wiley & Sons
2004
Kovakantinen kirja

U S Nuclear Regulatory Commission
University Press of the Pacific
2004
Pehmeäkantinen kirja

Michael Todinov
Wiley-Blackwell
2005
Kovakantinen kirja

Joel A. Nachlas
CRC Press (TANDF)
2005
Kovakantinen kirja

Thomas, Stephen J
Industrial Press
2005
Pehmeäkantinen kirja

Haym Benaroya; Haym Benaroya
CRC Press (TANDF)
2005
Kovakantinen kirja

Yu, CW.; Bull, John W.
Whittles
2006
Kovakantinen kirja

LC Tang
Wiley-Blackwell
2006
Kovakantinen kirja

Aguwa, Aloysius A
iUniverse
2007
Pehmeäkantinen kirja

Aguwa, Aloysius A
Author Solutions Inc
2007
Kovakantinen kirja

Minitab Inc; Lastminitab Inc
John Wiley&Sons
2008

Speegle, Michael
Cengage Learning, Inc
2009
Pehmeäkantinen kirja

Hugh W. Coleman; W. Glenn Steele
John Wiley & Sons
2009
Kovakantinen kirja

Mohammad Modarres; Mark Kaminskiy
CRC Press (TANDF)
2009
Kovakantinen kirja

McCormick, Kathleen E.
Butterworth-Heinemann
2002
Kovakantinen kirja