SULJE VALIKKO

lang-FI lang-EN lang-SE

avaa valikko

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
185,20 €
John Wiley & Sons Inc
Sivumäärä: 640 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2009, 04.09.2009 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms—from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. It also offers the first reference book with all relevant physics, equations, and step-by-step procedures for CMOS technology reliability in one place. Practical appendices provide basic experimental procedures that include experiment design, performing stressing in the laboratory, data analysis, reliability projections, and interpreting projections.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote
Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologieszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780471731726
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Meistä
Yhteystiedot ja aukioloajat
Usein kysytyt
Akateemisen Ystäväklubi
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste
Seuraa Akateemista
Instagram
Facebook
Threads
TikTok
YouTube
LinkedIn