SULJE VALIKKO

Ajankohtaista
Viikon poiminnat
Koulu kutsuu taas! 🎒
Hyvän mielen kesälukemista
Aloita uusi sarja
Pokkarista seuraa lomalla
Finlandia-palkinnon ehdokkaat ja voittajat
Anna kirjalle uusi elämä! Akateeminen x Kierrätyskeskus
Tapahtumat
7.8. Kirjojen yö Tampere
14.8. Kirjojen yö Helsinki
14.8. Kirjojen yö Turku
20.8. Emmi Itäranta, Risto Isomäki ja Elina Kahla
27.8. Markku Tasala
10.9. Julia Ahvenus ja Anu Pensola
4.9. Olivier Norek
Näistä puhumme juuri nyt!
Henkilökunta suosittelee
Suomenkielinen kaunokirjallisuus
Kotimainen kaunokirjallisuus
Käännetty kaunokirjallisuus
Nykykirjallisuus ja muut kaunokirjat
Keltainen Kirjasto
Romantiikka
Historialliset romaanit
Sotakirjallisuus
Fantasia ja scifi
Pokkarit
Sarjakuvat
Runous
Mietelauseet
Selkokirjat
Suomenkielinen jännitys
Dekkarit
Jännitys, trillerit ja kauhu
Suosittelemme: Satu Rämö
Suomenkielinen tietokirjallisuus
Elämänkerrat ja muistelmat
Yleistieto
Historia
Yhteiskunta
Taide ja arkkitehtuuri
Yritykset ja talous
Oikeustiede
Lääketiede
Tietotekniikka
Ajoneuvot
Käsityötaide
Kalenterit
Hyvinvointikirjat
Elämäntaito
Ihmissuhteet
Kauneus ja terveys
Psykologia
Lapset, vauvat, raskaus
Voimistelu
Harrastekirjat
Keittokirjat
Sisustus
Käsityöt
Talo ja piha
Puutarha ja kasvit
Urheilu ja ulkoilu
Matkakirjat
Eläimet
Musiikki
Valokuvaus
Metsästys ja kalastus
Lastenkirjat
Suomenkieliset lastenkirjat
Ruotsinkieliset lastenkirjat
Englanninkieliset lastenkirjat
Kuvakirjat
Oppi&ilo tuotteet kaikenikäisille
Harry Potter -sarja
Rambon talli! 🐎
Nuortenkirjat
Kaikki nuortenkirjat
Neropatin päiväkirja -sarja
Jännitystä ja kauhua nuorille
Lahjakortti
Tietoa verkkokaupasta
Uutishuone

avaa valikko

Wei-Ting+Kary+Chien | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 2 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Reliability, Yield, and Stress Burn-In - A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Way Kuo; Wei-Ting Kary Chien; Taeho Kim
Springer
1998
Kovakantinen kirja
Reliability, Yield, and Stress Burn-In - A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
134,60 €
Reliability, Yield, and Stress Burn-In - A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Way Kuo; Wei-Ting Kary Chien; Taeho Kim
Springer-Verlag New York Inc.
2014
Pehmeäkantinen kirja
Reliability, Yield, and Stress Burn-In - A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
134,60 €
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Meistä
Yhteystiedot ja aukioloajat
Usein kysytyt
Akateemisen Ystäväklubi
Toimitusehdot
Maksutavat
Tietosuojaseloste
Evästeiden hallinta
Seuraa Akateemista
Instagram
Facebook
Threads
TikTok
YouTube
LinkedIn
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedotOmat tilauksetOmat laskut
Meistä
Yhteystiedot ja aukioloajatUsein kysytyt Akateemisen YstäväklubiToimitusehdotTietosuojaselosteMaksutavatEvästeiden hallinta
Seuraa Akateemista
Instagram Facebook Threads TikTok YouTube LinkedIn