Stewart+E.+Rauch | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 1 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf-Peter; Sune, Jordi; La Rosa, Giuseppe; Sullivan, Timothy D.; Rauch, Stewart E.
John Wiley & Sons Inc
2009
Kovakantinen kirja

184,70 €

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Meistä

Yhteystiedot ja aukioloajat
Usein kysytyt
Akateemisen Ystäväklubi
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste

Seuraa Akateemista

Instagram
Facebook
Threads
TikTok
YouTube
LinkedIn

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot Omat tilaukset Omat laskut

Meistä

Yhteystiedot ja aukioloajat Usein kysytyt Akateemisen Ystäväklubi Toimitusehdot Tietosuojaseloste

Seuraa Akateemista

Instagram Facebook Threads TikTok YouTube LinkedIn