SULJE VALIKKO

Ajankohtaista
Cosy crime, poliisiromaani vai trilleri?
Aloita uusi sarja
Helsinki Lit -käännöskirjallisuusfestivaali
Viikon poiminnat
Find new english non-fiction reads
Löydä neulomisen ilo
Opi uusi kieli
Finlandia-palkinnon ehdokkaat ja voittajat
Anna kirjalle uusi elämä! Akateeminen x Kierrätyskeskus
Tapahtumat
29.3. J. P. Laitinen
2.4. Ville Mäkipelto, Juha Pakkala ja Raimo Hakola
9.4. Malin Slotte, Emma Klingenberg, Karin Collins och Anna-Lena Laurén
16.4. Dekkari-ilta: Hanni Maula ja Saila-Mari Kohtala
23.4. Vehka Kurjenmiekka, Jenna Kostet ja Maaria Päivinen
23.4. Tero Tähtinen
23.4. WTC Turku Book Club: Psychology of Money
30.4. Niina Kivilä ja Ida Kukkapuro
7.5. Ville Jalovaara, Leena Huovinen, Juhana Torkki ja Suvi West
Näistä puhumme juuri nyt!
Henkilökunta suosittelee
Kaunokirjallisuus
Kotimainen kaunokirjallisuus
Käännetty kaunokirjallisuus
Runous
Sarjakuvat
Mietelauseet
Pokkarit
Keltainen Kirjasto
Otavan kirjasto
Tietokirjallisuus
Elämänkerrat ja muistelmat
Yleistieto
Tietotekniikka
Ajoneuvot
Taide ja arkkitehtuuri
Käsityötaide
Historia
Yhteiskunta
Yritykset ja talous
Oikeustiede
Lääketiede
Kalenterit
Hyvinvointikirjat
Elämäntaito
Ihmissuhteet
Kauneus ja terveys
Psykologia
Lapset, vauvat, raskaus
Voimistelu
Harrastekirjat
Keittokirjat
Sisustus
Käsityöt
Talo ja piha
Puutarha ja kasvit
Urheilu ja ulkoilu
Matkakirjat
Eläimet
Musiikki
Valokuvaus
Metsästys ja kalastus
Lastenkirjat
Kuvakirjat
Oppi&ilo tuotteet kaikenikäisille
Nuortenkirjat
Selkokirjat
Lahjakortti
Tietoa verkkokaupasta
Uutishuone

avaa valikko

Kwang-Ting+(Tim)+Cheng | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 7 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
UNIFIED METHODS FOR VLSI SIMULATION AND TEST GENERATION
Kwang-Ting (Tim) Cheng; Vishwani D. Agrawal
Springer (1989)
Kovakantinen kirja
101,40 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Formal Equivalence Checking and Design Debugging
FORMAL EQUIVALENCE CHECKING AND DESIGN DEBUGGING
Shi-Yu Huang; Kwang-Ting (Tim) Cheng
Springer (1998)
Kovakantinen kirja
161,20 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Delay Fault Testing for VLSI Circuits
DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS
Angela Krstic; Kwang-Ting (Tim) Cheng
Springer (1998)
Kovakantinen kirja
134,60 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Formal Equivalence Checking and Design Debugging
FORMAL EQUIVALENCE CHECKING AND DESIGN DEBUGGING
Shi-Yu Huang; Kwang-Ting (Tim) Cheng
Springer-Verlag New York Inc. (2012)
Pehmeäkantinen kirja
161,20 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Delay Fault Testing for VLSI Circuits
DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS
Angela Krstic; Kwang-Ting (Tim) Cheng
Springer-Verlag New York Inc. (2012)
Pehmeäkantinen kirja
134,60 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Electronic Design Automation - Synthesis, Verification, and Test
ELECTRONIC DESIGN AUTOMATION - SYNTHESIS, VERIFICATION, AND TEST
Laung-Terng Wang; Yao-Wen Chang; Kwang-Ting Cheng (Tim)
Elsevier Science & Technology (2009)
Kovakantinen kirja
105,80 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links
EFFICIENT TEST METHODOLOGIES FOR HIGH-SPEED SERIAL LINKS
Dongwoo Hong; Kwang-Ting Cheng (Tim)
SPRINGER VERLAG GMBH (2010)
Pehmeäkantinen kirja
66,20 €
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation
Kwang-Ting (Tim) Cheng, Vishwani D. Agrawal
101,40 €
Springer
Sivumäärä: 148 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 1989 ed.
Julkaisuvuosi: 1989, 30.06.1989 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: The Springer International Series in Engineering and Computer Science 73
Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

Volume: 73

Book description: N/A

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generationzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780792390251
Aihealue:
Ulkomaiset kirjat » Technology » Electronics » General
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Meistä
Yhteystiedot ja aukioloajat
Usein kysytyt
Akateemisen Ystäväklubi
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste
Seuraa Akateemista
Instagram
Facebook
Threads
TikTok
YouTube
LinkedIn
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedotOmat tilauksetOmat laskut
Meistä
Yhteystiedot ja aukioloajatUsein kysytyt Akateemisen YstäväklubiToimitusehdotTietosuojaseloste
Seuraa Akateemista
Instagram Facebook Threads TikTok YouTube LinkedIn