|
|

avaa valikko

Alvin W Strong | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 1 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf-Peter; Sune, Jordi; La Rosa, Giuseppe; Sullivan, Timothy D.; Rauch, Stewart E.
John Wiley & Sons Inc
2009
Kovakantinen kirja
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
178,90 €