|
|

avaa valikko

Thomas J Shaffner ed | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 2 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Seiler, David G. (ed.); Diebold, Alain C. (ed.); Shaffner, Thomas J. (ed.); McDonald, Robert (ed.); Zollner, Stefan (ed.); Khosl
American Institute of Physics
2003
Kovakantinen kirja
Characterization and Metrology for ULSI Technology: 2003 : 2003 International Conference on Characterization and Metrology for U
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
150,90 €
Seiler, David G. (ed.); Diebold, Alain C. (ed.); Shaffner, Thomas J. (ed.); McDonald, Robert (ed.); Bullis, W. Murray (ed.); Smi
American Institute of Physics
2001
Moniviestin
Characterization and Metrology for ULSI Technology 2000 : International Conference
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
209,00 €